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SIC碳化硅器件参数测试仪

SIC碳化硅器件参数测试仪

功能及主要参数:   适用碳化硅二极管、IGBT模块\MOS管等器件的时间参数测试。
MOS管动态参数测试仪

MOS管动态参数测试仪

ITC57300是美国ITC公司设计生产的高集成度功率半导体分立器件动态参数测试设备,采用测试主机+功能测试头+个性板的测试架构,可以满足N沟道、P沟道器件、双极晶体管等的各项动态参数的测试要求,且具有波形实时显示分析功能,是目前具领先水平的完备可靠的动态参数测试设备。 ITC57300动态参数测试系统主机可执行非破坏性的瞬态测量测试,包括对半导体器件绝缘栅双极晶体管(IGBT),功率MOSFET,二极管,双极型器件的测试头。主机包括所有测试设备和必要的软件分析,可执行电阻和电感的开关时间,开关损耗,栅极
HUSTEC-5000分立器件测试仪

HUSTEC-5000分立器件测试仪

设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补 偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。 面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
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