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华科智源-IGBT动态参数测试系统方法详解
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华科智源-itc57300测量反向恢复时间TRR、反向恢复
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华科智源-第一讲 功率循环测试原理及方法 简介
由于在功率循环测试中的被测试器件的发热部分集中在器件工作区域,其封装老化(aging)模式与正常工作下的器件相类似,故功率循环测试被认可为最接近于实际应用的功率器件可靠性测试而受到广泛的关注。